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產(chǎn)品中心半導(dǎo)體材料測(cè)試半導(dǎo)體多功能測(cè)試少子壽命/ μ LBIC變溫測(cè)試系統(tǒng)
產(chǎn)品簡(jiǎn)介
WT-2000MCT/μ LBIC 適用于對(duì)超低溫有特殊要求的材料，比如HgCdTe,InSb,GaAs,InGaAs等，它已被廣泛用于化合物材料的缺陷，雜質(zhì)和光電效率等參數(shù)表征。
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