漫反射率測(cè)試系統(tǒng)

產(chǎn)品簡(jiǎn)介
漫反射率測(cè)試系統(tǒng)光度測(cè)量準(zhǔn)確度：1%以內(nèi)（紫外-可見區(qū)），2%以內(nèi)；（近紅外區(qū)）,漫反射率測(cè)試系統(tǒng)光度測(cè)量重復(fù)性：1% (450nm-1800nm) ；測(cè)試試樣尺寸(典型)：直徑大于15mm，若同時(shí)測(cè)試透過率，則樣品厚度必須小于5mm

產(chǎn)品型號(hào)：S-MRS系列

更新時(shí)間：2025-06-24

廠商性質(zhì)：生產(chǎn)廠家

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S-MRS系列漫反射率測(cè)試系統(tǒng)應(yīng)用：

• 光譜測(cè)量范圍：350-2500nm ;光譜分辨率：2nm以下；光譜掃描步距：0.2-100nm可連續(xù)設(shè)置

• 波長(zhǎng)準(zhǔn)確度：優(yōu)于±0.2nm（紫外-可見區(qū)），優(yōu)于±0.5nm；（近紅外區(qū)）

• 光度測(cè)量準(zhǔn)確度：1%以內(nèi)（紫外-可見區(qū)），2%以內(nèi)；（近紅外區(qū)）

• 光度測(cè)量重復(fù)性：1% (450nm-1800nm) ；測(cè)試試樣尺寸(典型)：直徑大于15mm，若同時(shí)測(cè)試透過率，則樣品厚度必須小于5mm

S-MRS系列漫反射率測(cè)試系統(tǒng)特點(diǎn)

• 光譜測(cè)量范圍：350-2500nm ;光譜分辨率：2nm以下；光譜掃描步距：0.2-100nm可連續(xù)設(shè)置

• 波長(zhǎng)準(zhǔn)確度：優(yōu)于±0.2nm（紫外-可見區(qū)），優(yōu)于±0.5nm；（近紅外區(qū)）

• 光度測(cè)量準(zhǔn)確度：1%以內(nèi)（紫外-可見區(qū)），2%以內(nèi)；（近紅外區(qū)）

• 光度測(cè)量重復(fù)性：1% (450nm-1800nm) ；測(cè)試試樣尺寸(典型)：直徑大于15mm，若同時(shí)測(cè)試透過率，則樣品厚度必須小于5mm

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